光本位智能科技申请多通道光开关测试方法专利，显著提高多通道光开关的测试效率与选通精度_新农经济

光本位智能科技申请多通道光开关测试方法专利，显著提高多通道光开关的测试效率与选通精度

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2026-08-13 06:33:28

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国家知识产权局信息显示，光本位智能科技（上海）股份有限公司申请一项名为“一种多通道光开关的测试方法、系统及存储介质”的专利，公开号CN122545071A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本申请涉及一种多通道光开关的测试方法、系统及存储介质，本申请涉及光开关的技术领域。该方法首先基于遗传算法进行全局搜索，构建初始种群并迭代优化，得到最优电压组合；然后在遗传算法输出的最优解基础上，采用模拟退火算法进行局部精细搜索，进一步逼近理想适应度阈值。其中，模拟退火的初始温度根据最优解邻域内采样点的适应度下降量平均值自适应设定；扰动幅度根据各通道的敏感度因子差异动态调整，且随退火温度等比例收缩。本申请还引入强制随机干扰机制，在遗传算法迭代停滞时施加强随机扰动以跳出局部最优。本申请通过遗传算法与模拟退火的有效融合，结合敏感度自适应的扰动控制，显著提高了多通道光开关的测试效率与选通精度。

天眼查资料显示，光本位智能科技（上海）股份有限公司，成立于2022年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本418.0869万人民币。通过天眼查大数据分析，光本位智能科技（上海）股份有限公司共对外投资了6家企业，参与招投标项目4次，专利信息91条，此外企业还拥有行政许可6个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业科技投资上海扰动的测试开关本位专利智能算法通道

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